以科學檢測與可追溯資料建立寶石鑑定信任

PerkinElmer Spectrum Two FT-IR Spectrometer with Pike UPIR

珀金埃爾默 傅立葉轉換式紅外光譜儀與上漫反射套件

以紅外光譜分析寶石材料吸收特徵，輔助判讀材質、處理跡象與有機填充物相關資訊。 PerkinElmer Frontier FT-IR Spectrometer

珀金埃爾默 傅立葉轉換式紅外光譜儀搭配鑽石衰減全反射配件與光束聚光器

PerkinElmer Frontier 傅立葉轉換紅外光譜儀搭配 ATR 衰減全反射配件與光束聚光器（Beam Condenser），可快速取得固體、粉末、薄膜、樹脂、塗層、液體及小型樣品的紅外光譜，適用於材料鑑別、官能基分析、寶石處理物辨識及未知有機物比對... PerkinElmer Spectrum 100 FT-IR Spectrometer with Infrared Microscope

珀金埃爾默 傅立葉轉換式紅外光譜儀暨紅外顯微鏡系統

PerkinElmer Spectrum 100 傅立葉轉換紅外光譜儀搭配紅外顯微鏡系統，可將可見光顯微觀察與紅外光譜分析結合，針對微小顆粒、纖維、薄膜、塗層、局部填充物及材料表面指定區域進行顯微紅外光譜量測，適用於微區材料鑑別、官能基分析及光... Shimadzu EDX-7000 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer

島津 EDX-7000 能量散射型 X 光螢光光譜儀

島津 EDX-7000 能量散射型 X 光螢光光譜儀搭配真空量測系統及 12 樣品自動轉盤，可進行固體、粉末與液體樣品的快速多元素分析。系統適用於寶石、礦物、金屬、玻璃、陶瓷、聚合物、塗層及其他材料的元素組成鑑別、半定量分析、定量分析與... Shimadzu EDX-7200 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer

島津 EDX-7200 能量散射型 X 光螢光光譜儀

島津 EDX-7200 能量散射型 X 光螢光光譜儀搭配真空量測系統及 12 樣品自動轉盤，可進行固體、粉末與液體樣品的快速多元素分析。系統適用於寶石、礦物、金屬、玻璃、陶瓷、聚合物、塗層及其他材料的元素組成鑑別、半定量分析、定量分析與... Rigaku EDXL-300 Cartesian Geometry Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer

Rigaku EDXL-300 偏光式能量散射型 X 光螢光分析儀

Rigaku EDXL-300 是一套採用三維笛卡兒幾何偏光光學系與二次靶激發技術的能量散射式 X 光螢光分析儀。本所配置真空量測系統及 15 試料自動交換器，可進行固體、粉末、液體、金屬、聚合物、塗層及其他材料的主要與微量元素分析，適用於材... Avantes AvaSpec-ULS2048 UV–Vis–NIR Spectrometer with Integrating Sphere

Avantes AvaSpec-ULS2048 紫外－可見光－近紅外光譜暨積分球系統

Avantes AvaSpec-ULS2048-USB2-UA-50-RS 是一套光纖式紫外－可見光－近紅外光譜系統，搭配積分球可收集樣品表面不同方向的反射光，適合寶石、礦物、塗層及其他材料的反射與吸收光譜分析，可應用於顏色成因、電子躍遷、發色中心及材料光學... UniRam Dual-Wavelength Micro-Raman Spectroscopy System

雙波長顯微拉曼光譜儀

雙波長顯微拉曼光譜儀配置 532 nm 與 785 nm 激發雷射，可透過顯微影像選取樣品中的微小區域並取得拉曼光譜。系統適用於寶石、礦物、包裹體、晶體、聚合物、塗層及未知微小材料的分子振動、晶格結構與材料光譜鑑別。 GL Gem Raman PL532 TEC Raman and Photoluminescence Spectroscopy System

GL Gem Raman PL532 TEC 顯微拉曼暨光致發光光譜系統

GL Gem Raman PL532 TEC 是一套專為寶石與礦物分析設計的 532 nm 聚焦式拉曼暨光致發光光譜系統，可針對寶石表面、微小晶體、包裹體、鑲嵌珠寶及粗礦取得拉曼與 PL 光譜，並透過寶石、礦物及 RRUFF 相關參考光譜進行比較。 ProTrusTech GMD 785 nm Micro-Raman Spectroscopy and Raman Mapping System

GMD 785 nm 顯微拉曼光譜暨拉曼組圖分析系統

GMD 785 nm 顯微拉曼光譜暨拉曼組圖分析系統，配置 785 nm 近紅外激發雷射與 50x 顯微物鏡，可針對寶石、礦物、晶體、包裹體、微小顆粒、薄膜及局部材料進行顯微拉曼光譜分析。RamMA 軟體支援拉曼組圖、峰強度、半高寬、雙峰強度比、峰位...

2024 · Gems & Gemology

本所研究登上 GIA《Gems & Gemology》：奈米尺度技術解析彩色合成莫桑石鍍膜

本所吳琮任所長以第一作者身分，於 GIA 出版、收錄於 Science Citation Index Expanded 的國際專業寶石學期刊《Gems & Gemology》發表長篇 Feature Article。研究整合 EDXRF、AES／AIS、球差校正穿透式電子顯微鏡、EELS 與 EPMA，從奈米...