儀器介紹
GL Gem Raman PL532 TEC 是一套針對寶石學、礦物學及材料分析設計的拉曼暨光致發光光譜系統。
本系統使用 532 nm 綠光雷射作為激發光源，並利用 OneFocus 聚焦光學系統將雷射集中於樣品的微小區域。分析人員可針對寶石表面、微小晶體、包裹體、不同顏色區域、珠寶鑲嵌樣品及粗礦的指定位置取得拉曼光譜。
拉曼光譜可反映材料中的分子振動與晶格振動特徵，形成具有鑑別價值的材料指紋。系統適合鑽石及其仿品、翡翠與軟玉、珍珠、珊瑚、礦物、玻璃、聚合物及其他未知材料的光譜比較。
除拉曼模式外，本系統亦具有光致發光光譜量測功能，可觀察部分寶石與鑽石中的發光中心、缺陷中心及處理相關的光譜特徵。
系統搭載 TEC 熱電冷卻式線性陣列偵測器，有助於提升較長積分時間及弱訊號量測時的穩定性。即時光譜擷取與參考資料庫搜尋功能，可將樣品光譜與寶石、礦物及 RRUFF 相關參考光譜進行比較。
儀器規格
| 品牌 | GL Gem Raman |
|---|---|
| 儀器型號 | GL Gem Raman PL532 TEC |
| 儀器類型 | 聚焦式拉曼暨光致發光光譜系統 |
| 英文技術名稱 | Raman and Photoluminescence Spectroscopy |
| 激發雷射 | 532 nm |
| 聚焦光學系統 | OneFocus Optical System |
| 量測幾何 | 背向散射拉曼量測 |
| 量測模式 | Raman 與 Photoluminescence |
| PL 光譜範圍 | 530–750 nm |
| 偵測器冷卻 | TEC 熱電冷卻 |
| 樣品台 | 具水平微調與聚焦調整功能 |
| 最大樣品空間 | 約 90 × 90 × 50 mm |
| 適用樣品 | 寶石、礦物、鑽石、珍珠、翡翠、珠寶鑲嵌樣品、粗礦及微小材料 |
| 主要用途 | 寶石與礦物的拉曼及光致發光光譜分析 |
| 偵測器 | TEC 熱電冷卻式線性陣列偵測器 |