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本所研究登上 GIA《Gems & Gemology》:奈米尺度技術解析彩色合成莫桑石鍍膜

本所吳琮任所長以第一作者身分,於 GIA 出版、收錄於 Science Citation Index Expanded 的國際專業寶石學期刊《Gems & Gemology》發表長篇 Feature Article。研究整合 EDXRF、AES/AIS、球差校正穿透式電子顯微鏡、EELS 與 EPMA,從奈米尺度解析藍綠色及粉紅色合成莫桑石的彩色鍍膜結構、元素組成、厚度與致色機制。

Tsung-Jen Wu(吳琮任,第一作者)、Sheng-Rong Song(通訊作者)、Wen-Shan Chen、Wen Lin、Chien-Tai Cheng · 2024 · Gems & Gemology

AES
歐傑效應示意圖

摘要

本所吳琮任所長以第一作者身分,於 GIA 出版、收錄於 Science Citation Index Expanded 的國際專業寶石學期刊《Gems & Gemology》發表長篇 Feature Article。研究整合 EDXRF、AES/AIS、球差校正穿透式電子顯微鏡、EELS 與 EPMA,從奈米尺度解析藍綠色及粉紅色合成莫桑石的彩色鍍膜結構、元素組成、厚度與致色機制。

研究成果

本所吳琮任所長以第一作者身分,在美國寶石研究院(Gemological Institute of America,GIA)出版的國際專業寶石學期刊《Gems & Gemology》發表長篇 Feature Article:

Nanoscale Techniques for Characterizing Gemstone Coatings: A Case Study on Synthetic Moissanite

本篇論文刊登於《Gems & Gemology》2024 年春季號,第 60 卷第 1 期,頁碼 42–54。《Gems & Gemology》是國際同儕審查寶石學期刊,並收錄於 Science Citation Index Expanded(SCIE)。本研究以彩色合成莫桑石為案例,將材料科學與奈米表面分析技術導入寶石鍍膜鑑定,深入解析彩色薄膜的組成、厚度、界面結構及致色機制。

從寶石鑑定走向奈米材料分析

隨著物理氣相沉積、化學氣相沉積、離子植入及奈米材料技術逐漸應用於寶石處理,部分現代鍍膜的厚度僅有數奈米至數十奈米。傳統顯微觀察、拉曼光譜、FTIR、UV-Vis-NIR 或一般元素分析,雖能提供重要線索,卻未必足以完整解析複雜的多層薄膜結構。

本研究因此整合多種材料科學分析技術,從寶石表面一路分析至鍍膜與基材的奈米尺度界面,建立一套可用於研究現代寶石鍍膜的分析架構。

研究樣品

研究以市售彩色合成莫桑石為對象,包括:

  • 兩顆淺藍綠色合成莫桑石
  • 兩顆粉紅色合成莫桑石
  • 一顆無色合成莫桑石作為比較樣品

初步觀察顯示,部分樣品表面可見顏色分布不均、刻面上下區域光澤差異及反射光下的特殊色調。將彩色樣品沿腰圍切開後,可觀察到顏色主要集中於外部表面,內部基材仍接近無色,證實顏色與表面鍍膜密切相關。

整合多種奈米分析技術

一、能量散射式 X 射線螢光分析(EDXRF)

使用 Rigaku EDXL-300 進行無標準品基本參數法分析,作為主要元素及微量元素的初步篩選。

EDXRF 結果顯示:

  • 淺藍綠色樣品含有較高的釩、錳與鈷
  • 粉紅色樣品檢出金
  • 無色比較樣品未檢出上述致色相關元素

二、歐傑電子能譜與氬離子濺鍍深度分析(AES/AIS)

使用 JEOL JAMP-9510F 進行表面元素分析,並搭配氬離子束逐層濺鍍,建立元素濃度隨深度變化的剖面。

AES 對樣品表面具有高度靈敏度,可分析僅數奈米深度的材料。依作者所知,本研究是首次將 AES 系統性應用於寶石學鍍膜研究。

三、球差校正穿透式電子顯微鏡與電子能量損失能譜(AC-TEM/EELS)

使用 JEOL JEM-ARM300F Grand ARM,觀察鍍膜橫截面的奈米結構,並分析薄膜與合成莫桑石基材之間的界面。

四、電子探針顯微分析(EPMA)

使用 Shimadzu EPMA-8050G 進行背向散射電子影像與元素面分布分析,確認微量元素在鍍膜表面的空間分布。

淺藍綠色鍍膜:摻雜微量元素的二氧化矽薄膜

研究發現,兩顆淺藍綠色合成莫桑石的表面均覆蓋非晶質二氧化矽薄膜,厚度分別約為 45 nm 與 62 nm,整體約 45–62 nm。

薄膜中含有少量釩(V)、錳(Mn)與鈷(Co)。這些元素位於表面鍍膜中,不是將其描述為 SiC 晶體本身的確定摻雜元素。

AES 深度分析顯示,氧與釩的濃度在進入合成莫桑石基材後迅速降低;AC-TEM 與 EELS 則直接觀察到位於 SiC 基材上的非晶質二氧化矽薄膜。EPMA 元素面分析進一步確認釩、錳與鈷在表面鍍膜中呈不均勻分布。

研究推測,這類藍綠色鍍膜可能先以化學氣相沉積形成穩定的二氧化矽薄膜,再透過離子植入將釩、錳與鈷等致色元素摻入薄膜,以調整最終色彩。

粉紅色鍍膜:金奈米粒子的局域表面電漿共振

粉紅色合成莫桑石的鍍膜結構與藍綠色樣品明顯不同。研究結果顯示,合成莫桑石晶質 SiC 基材表面先形成約 3–5 nm 厚的非晶質 SiC 介層,其外部再覆蓋含金奈米粒子的薄膜。

含金外層厚度約 15 nm,整體低於約 20 nm;金奈米粒子的尺寸約為 5–10 nm。EPMA 與 AES 結果支持粉紅色鍍膜含金,但金的分布不均勻且濃度低;EELS 未檢出金並不代表鍍膜不含金。

當金奈米粒子彼此沒有直接接觸,並由介電材料隔開時,自由電子會在入射光的振盪電場作用下產生集體振盪,形成局域表面電漿共振(Localized Surface Plasmon Resonance,LSPR)。

金奈米粒子的 LSPR 會在約 520–580 nm 的綠光至黃光區域產生特殊吸收,使材料呈現其互補色,包括紅色、粉紅色及紫色。這項奈米光學效應是本研究粉紅色合成莫桑石的重要致色來源。

研究推測,製程可能先以化學氣相沉積形成非晶質 SiC 介層,再以電子束蒸鍍或濺鍍等物理氣相沉積方法沉積含金奈米粒子的外層薄膜。這是依實驗結果提出的可能製程,不代表已取得製造商製程紀錄。

多種分析方法交叉驗證的重要性

這項研究顯示,單一分析儀器可能無法完整辨識低濃度且分布不均的奈米鍍膜:

  • AES 能提供高靈敏度的表面與深度元素分析
  • AC-TEM 可直接觀察奈米級薄膜與界面結構
  • EELS 適合分析薄膜中的主要輕元素
  • EPMA 可呈現微量元素在表面的空間分布
  • EDXRF 適合進行快速初步元素篩選

不同技術之間相互補充,才能建立較完整的鍍膜結構、元素組成與加工機制證據。

研究貢獻

本研究的重要性不只在於辨認彩色合成莫桑石表面存在鍍膜,更進一步從奈米尺度釐清:

  • 鍍膜的實際厚度
  • 薄膜的元素組成
  • 薄膜與 SiC 基材之間的界面
  • 微量致色元素的分布
  • 可能使用的 CVD、PVD 與離子植入製程
  • 金奈米粒子的局域表面電漿共振致色機制

研究證明,現代寶石處理已與半導體、薄膜工程及奈米材料技術高度交會。面對新型鍍膜與表面處理,寶石研究除了傳統礦物學與光譜學,也需要結合表面科學、電子顯微分析及材料工程方法。研究結論適用於本研究分析的樣品及相似製品,不延伸為所有彩色合成莫桑石的通用結論。

第一作者

本篇論文由本所吳琮任所長擔任第一作者。

作者名單依正式論文順序為:Tsung-Jen Wu、Sheng-Rong Song、Wen-Shan Chen、Wen Lin、Chien-Tai Cheng。Sheng-Rong Song 為通訊作者。

這項研究呈現本所在寶石鑑定、奈米薄膜、表面分析及材料科學整合研究上的專業能力,也為彩色鍍膜寶石的鑑定與研究建立重要的技術基礎。

論文資訊

論文名稱:
Nanoscale Techniques for Characterizing Gemstone Coatings: A Case Study on Synthetic Moissanite

期刊: Gems & Gemology

出版機構: Gemological Institute of America(GIA)

卷期: Vol. 60, No. 1,Spring 2024

頁碼: 42–54

DOI: 10.5741/GEMS.60.1.42

第一作者: Tsung-Jen Wu(吳琮任所長)

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引用資訊

文章類型:Feature Article 英文標題:Nanoscale Techniques for Characterizing Gemstone Coatings: A Case Study on Synthetic Moissanite 作者:Tsung-Jen Wu;Sheng-Rong Song;Wen-Shan Chen;Wen Lin;Chien-Tai Cheng 中文作者:吳琮任、宋聖榮、陳文山、林文、鄭建泰 第一作者:Tsung-Jen Wu(吳琮任所長) 通訊作者:Sheng-Rong Song 期刊:Gems & Gemology(G&G) 出版機構:Gemological Institute of America(GIA) 出版資訊:Volume 60, Number 1, Spring 2024, pages 42–54 同儕審查:是 索引收錄:Science Citation Index Expanded(SCIE) 原始語言:英文 研究領域:寶石學、材料科學、表面分析、奈米薄膜 DOI:https://doi.org/10.5741/GEMS.60.1.42 GIA 官方文章:https://www.gia.edu/gems-gemology/spring-2024-gem-coatings

DOI

10.5741/GEMS.60.1.42